カゴの中を見る

商品数:0点

合計:0円

カゴの中を見る

商品を探す

商品カテゴリから選ぶ

商品名を入力

検索結果で出ない商品は

お問い合わせ下さいませ

商品カテゴリ

分野別

商品コード: JESD22-A108F-RF-2017

JESD22-A108F Revision F: 2017

販売価格(税込): 12,671 円  (本体価格: 11,733 円+税)
種類別の販売価格、在庫状況を見る
在庫区分
数  量

カゴに入れる

商品おすすめポイント

書名

JESD22-A108F Revision F: 2017 Temperature, Bias, and Operating Life
出版社/発行元 JEDEC
発行年/月 2017年7月   
装丁 ペーパー
ページ数/巻数 14 ページ
発送予定 海外倉庫よりお取り寄せ 1-2週間以内に発送します

  

※PDF版、PDF版+冊子版をご希望のお客様は別途お問合せ下さいませ
※当ウェブ・ショップに掲載のない規格につきましては、別途お問合せ下さいませ。
※掲載の規格は、当ウェブ・ショップに掲載時点で確認できた最新版でございます。
最新の発行状況につきましては受注時に改めて確認をさせて頂きますので予めご了承下さい。

  

Description

 

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortalityrelated failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document.

 

 

種類別の販売価格、在庫状況を見る
在庫区分
数  量

カゴに入れる

この商品に対するお客様の声

 

 

mitsumori

見積書をお送り致します

 

 

  新刊案内など配信中!!

 

このページのTOPへ