JavaScript を有効にしてご利用下さい.
商品数：0点
合計：0円
商品カテゴリから選ぶ
全ての商品 お見積商品 新刊タイトル 情報科学 ネットワーク 知能情報学 工学 機械工学 電気電子工学 システム・制御工学 材料科学 物理学 物性物理 数学 ライフサイエンス 薬学 地球・環境科学 エネルギー・環境 環境・資源・エネルギー 言語学 近刊タイトル 情報科学 ネットワーク 工学 機械工学 電気電子工学 材料科学 数学 応用数学 言語学 特集 Now Publishers Foundations and... Engineering Communication... Computer Grap... Electronic De... Networking Optimization Robotics Signal Proces... Systems and C... Computer Scien... Databases Human-Compute... Information R... Machine Learn... Privacy and S... Programming L... Theoretical C... Web Science Droneii ドローン市場調査... SPIE Books Karlsruhe Nuclid... John Benjamins P... Advances in Int... Argumentation i... Benjamins Curre... Benjamins Trans... Bilingual Proce... Constructional ... Converging Evid... Current Issues ... Figurative Thou... Human Cognitive... Language Learni... Linguistic Appr... Metaphor in Lan... Natural Languag... Pragmatics & Be... Studies in Bili... Studies in Corp... Studies in Lang... Task-Based Lang... Topics in Addre... Typological Stu... Parenteral Drug ... ACGIH商品 IMO exida books OREDA Handbook 原子力・放射線関連 医用画像 医用光学 金属生体材料 計画数理 言語学・文体論 材料物性 自動走行システム 電池 ASM International ASM Handbook ASHRAE Handbook 分野別 規格・仕様書 市場調査レポート ソフトウェア リファレンス 情報科学 情報学基礎 ソフトウェア コンピュータシステム・ハードウ... ネットワーク 知能情報学 工学 ナノ・マイクロ科学 機械工学 電気電子工学 システム・制御工学 土木・建設工学 材料科学 化学 物理化学 核化学 有機化学・合成化学 無機化学 分析化学 高分子化学 電気化学 物理学 基礎物理学 原子・分子・電磁気学・光学・プ... 物性物理 数学 統計学・確率論 応用数学 離散数学 ライフサイエンス 農学 生物学 植物学 基礎医学 食品科学 薬学 薬局方 地球・環境科学 大気科学・水分学・海洋学 環境科学 エネルギ- 環境 環境・資源・エネルギー 心理学 言語学 経済学 IEA 国際エネルギー機関 Dat... IEA データ サービス サブス... IEA 市場レポートシリーズ：ガス IEA 市場レポートシリーズ：再... IEA 市場レポートシリーズ：石炭 IEA 市場レポートシリーズ：石油 IEA 世界エネルギー展望 IEA 世界エネルギー統計 IEA 世界エネルギー収支 IEA 世界エネルギー統計と収支 IEA 再生可能エネルギー情報統計 IEA 石油情報統計 IEA 天然ガス情報統計 IEA 電力情報統計 IEA 石炭情報統計 IEA 燃料燃焼によるCO2排出... CINDAS商品 コクラン分子構造模型キット オーヴィスオリジナル Orbitセット各種 Minitセット各種 Unitセット テストキット 工業規格 ANSI/NEMA規格 ANSI/VITA規格 API規格 ARINC規格 ASHRAE規格 ASME規格 AWS規格 BS規格 EJMA規格 ESD規格 EUROCAE規格 FAA規格 FORD規格 GB規格 GJB/Z規格 GMW規格 HEI規格 IEC規格 IEEE規格 IMDG規格 JEDEC規格 MPIF規格 MISRA規格 NBIC規格 NEMA規格 NFPA規格 RTCA規格 RTCM規格 SAE規格 SMPTE規格 TIA規格 UL規格 VDA規格 AFCEN Codes AMS-STD-595 IRIS Certificati... Quanterion Data ... Siemens SN29500規格 MISRA規格 非破壊検査等 信頼性・故障率 金融カレンダー (GDF)
商品名を入力
検索結果で出ない商品は
お問い合わせ下さいませ
画像を拡大する
分野別 > 規格・仕様書
工業規格 > Quanterion Data Books
信頼性・故障率
書名
Download版については別途お問合せ下さい
217Plus™:2015, Notice 1 is the latest revision to the popular 217Plus™ Handbook of Reliability Prediction Models based on the original MIL-HDBK-217, Reliability Prediction of Electronic Equipment. Available exclusively through Quanterion, 217Plus™:2015, Notice 1 replaces the original software reliability prediction model with the Neufelder Model for software reliability prediction.
Quanterion’s long history with electronics prediction models and tools dates back to the development of PRISM®, the System Reliability Assessment methodology and automated reliability prediction tool, developed in the 1990s by Quanterion employees while working at the former Reliability Analysis Center (RAC). After 2000, PRISM® remained in use but was not updated to include new models. In 2005, when the RIAC was recompeted and awarded to a team that included Quanterion, these models were revisited and 217Plus™, an update to PRISM®, was released shortly thereafter. 217Plus™, which doubled the number of models in PRISM® and includes the complete prediction methodology for all of the major component categories in MIL-HDBK-217, was the only DoD-authorized and supported effort to expand the capabilities of PRISM®.
217Plus™:2015, Notice 1 Calculator Tool
Accompanying the updated handbook is an updated 217Plus™:2015, Notice 1 Calculator that facilitates the failure rate calculations of up to ten (10) hardware assemblies, and fifteen (15) software assemblies, based on the component and system reliability models defined by Quanterion’s 217Plus™:2015, Notice 1 methodology. All models are detailed in the 2015, Notice 1 “Handbook of 217Plus Reliability Prediction Models” (HDBK-217Plus™:2015, Notice 1), available exclusively from Quanterion. As an upgrade of the original 217Plus methodology from 2006, 217Plus™:2015, Notice 1 contains all of the 2015 component models, and replaces the original software reliability prediction model with the Neufelder Model for software reliability prediction. It is recommended that the user obtain a copy of the new 217Plus™:2015, Notice 1 Handbook for detailed information on these models, the model development background, and associated reference tables and equations. To take full advantage of the Neufelder Model within 217Plus™:2015, Notice 1, you will need to purchase a copy of IEEE Standard 1633-2016 “IEEE Recommended Practice on Software Reliability” from IEEE or an authorized distributor (Quanterion does not sell IEEE Standard 1633-2016). Quanterion also provides product support to all registered users of the original 217Plus™ or 217Plus™:2015 Calculators.
217Plus™ Training
Quanterion also offers an online training video to familiarize reliability practitioners with the original RIAC 217Plus™ electronics reliability prediction methodology (2006 version). Click on the link above to learn more about this training.
見積書をお送り致します
新刊案内など配信中！！
