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商品コード: 9781906715175

ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry

販売価格(税込): 31,341 円  (本体価格: 29,020 円+税)
在庫数: 残り:2冊
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書名

ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry 2nd ed.
著者・編者 Vickerman, John C. & Briggs, David
出版社/発行元 IM Publishing
発行年/月 2013年
装丁 ハードカバー
ページ数/巻数 732 ページ
ISBN 978-1-906715-17-5
発送予定
1-2営業日以内に発送致します。
 
 
 

Description

 

ToF-SIMSは表面分析法の中で最も多用途であり、この30年の間に様々な発展を遂げています。
本書は第1版よりも更に簡潔にわかりやすくまとめられており計測機器や試料の取り扱い、分子動力学シミュレーションやデータ解析、応用分析などの章にわかれています。


Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is the most versatile of the surface analysis techniques that have been developed during the last 30 years. Current instrumentation provides a powerful combination of capabilities for molecular detection and trace element determination, imaging in two and three dimensions, and microanalysis.

This is the Second Edition of the first book to be dedicated to the subject and the treatment is comprehensive. Following overview and historical chapters, there are sections devoted to instrumentation and sample handling, fundamentals and molecular dynamics simulations, optimisation methods–including laser post-ionisation of sputtered neutrals, data interpretation and analytical applications.

 

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